ASTM A 754-1979 用X射线荧光法测定镀层厚度的试验方法
作者:标准资料网 时间:2024-05-08 10:40:24 浏览:9480
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【英文标准名称】:TestMethodforCoatingThicknessbyX-RayFluorescence
【原文标准名称】:用X射线荧光法测定镀层厚度的试验方法
【标准号】:ASTMA754-1979
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1979
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:X射线荧光光谱法;X射线;涂覆的;试验;厚度;覆层
【英文主题词】:testing;thickness;x-rayfluorescencespectrometry;coatings;coated;x-ray
【摘要】:
【中国标准分类号】:H26
【国际标准分类号】:87_040
【页数】:7P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:用X射线荧光法测定镀层厚度的试验方法
【标准号】:ASTMA754-1979
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1979
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:X射线荧光光谱法;X射线;涂覆的;试验;厚度;覆层
【英文主题词】:testing;thickness;x-rayfluorescencespectrometry;coatings;coated;x-ray
【摘要】:
【中国标准分类号】:H26
【国际标准分类号】:87_040
【页数】:7P;A4
【正文语种】:英语
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