SJ 1000-1975 引伸凸模
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来源:标准资料网
基本信息
标准名称: | 引伸凸模 |
英文名称: | Double acting drawing die on press--Drawing punch |
中标分类: |
电子元器件与信息技术 >>
电子工业生产设备 >>
加工专用设备 |
替代情况: | NE 840-1955 |
发布部门: | 中华人民共和国第四机械工业部 |
发布日期: | 1975-08-15 |
实施日期: | 1976-01-01 |
首发日期: | |
作废日期: | |
出版日期: | 1976-01-01 |
页数: | 2页 |
适用范围
没有内容
前言
没有内容
目录
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引用标准
没有内容
所属分类: 电子元器件与信息技术 电子工业生产设备 加工专用设备
【英文标准名称】:
【原文标准名称】:接触式电磁继电器
【标准号】:JISC4531-1982
【标准状态】:作废
【国别】:日本
【发布日期】:1982-11-01
【实施或试行日期】:1982-11-01
【发布单位】:日本工业标准调查会(JISC)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电流控制;接触器;电路;触点继电器;继电器;电控制设备;电磁驱动装置
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L25
【国际标准分类号】:
【页数】:
【正文语种】:
【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part15:Resistancetosolderingtemperatureforthrough-holemounteddevices
【原文标准名称】:半导体器件.机械和环境测试方法.第15部分:引脚插入式封装设备的耐钎焊温度
【标准号】:IEC60749-15-2010
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2010-10
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:气候;气候试验;组件;电气工程;电学测量;电子工程;电子设备及元件;环境测试;集成电路;机械测试;半导体器件;半导体;耐钎焊温度;试验;引脚插入式封装
【英文主题词】:Climate;Climatictests;Components;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Integratedcircuits;Mechanicaltesting;Semiconductordevices;Semiconductors;Solderingtemperatureresistance;Testing;Trough-holemounting
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:14P;A4
【正文语种】:英语